Dégradation induite par la lumière et les températures élevées

LeTID

RETC se tient informé des derniers protocoles de la norme d'essai « Light and Elevated Temperature Degradation » (LeTID). Avec l'apparition des cellules PERC (Passivated Emitter Rear Cell) pour les architectures de cellules en silicium polycristallin et monocristallin, le test LeTID est devenu une procédure d'essai standard désormais intégrée au test Thresher.